इलेक्ट्रॉनिक पुर्ज़े : SN54BCT8373AFK

निर्माता : Texas Instruments

पैकिंग :

पिन :

वर्णन : SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES

तापमान : न्यूनतम °C | मैक्स °C

Datasheet : SN54BCT8373AFK PDF

• SN54BCT8373A
• SN54BCT8373AFK
• SN54BCT8373AJT
• SN54BCT8374A
• SN54BCT8374AFK
• SN54BCT8374AJT
• SN54BCT8374A_08