इलेक्ट्रॉनिक पुर्ज़े : SN74LVTH182512DGGR

निर्माता : Texas Instruments

पैकिंग :

पिन :

वर्णन : 3.3-V SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL TRANSCEIVERS

तापमान : न्यूनतम °C | मैक्स °C

Datasheet : SN74LVTH182512DGGR PDF

• SN74LVTH182502A
• SN74LVTH182502APM
• SN74LVTH182502APMR
• SN74LVTH182504A
• SN74LVTH182504APM
• SN74LVTH182512
• SN74LVTH182512DGG
• SN74LVTH182512DGGR
• SN74LVTH182514
• SN74LVTH182514DGG
• SN74LVTH182516