इलेक्ट्रॉनिक पुर्ज़े : SN54BCT8374AFK

निर्माता : Texas Instruments

पैकिंग :

पिन :

वर्णन : SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

तापमान : न्यूनतम °C | मैक्स °C

Datasheet : SN54BCT8374AFK PDF

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